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NOTÍCIAS E INFORMAÇÕES SOBRE OS LABORATÓRIOS DO LARX

Forno para medidas in situ é instalado no DRX

Acaba de ser instalado no difratômetro de raios x (DRX) do Lab DRX do LARX, um forno com aquecimento controlado até 1200 oC, que permitirá a obtenção in situ de espectros de difração em função da trasnformações estruturais provocadas por aquecimento da amostra.

 

Em 15/04/15

 Lab PSI tem aprovado a aquisição de um novo equipamento

O Lab PSI que conta atualmente com um evaporadora resistiva para deposição de filmes finos (películas) estará recebendo em breve um sistema de deposição e filmes finos pela técnicas de borrifamento catódico por rádio frequencia (sputtering RF). Com o novo equipamento será possível formar películas de materiais isolantes sobre substratos sólidos.

 

Em 15/04/15

Lab DRX terá novos acessórios

No mês de abril serão instalados no Lab DRX dois novos acessórios: um detetor de raios x de alta resolução (X'Celerator) com capacidade de até 4x10E6 contagens por segundo e um forno de alta temperatura (1200 oC) que permite a obtenção de espectros de difração de raios x in situ.

 

Em 14/04/15

Técnico do Lab Filmat da UEL participa de curso na UFSC

O técnico do Lab FIlmat do Depto. de Física da UEL, Paulo Rogério Catarini participou do “1o Mini-curso de Determinação de Estruturas por Difração de Raios X de Pó“, ministrado pelos Prof.s Dr. Norberto Masciocchi (Insubria, Italy) e Dr. Bill David (Oxford, United Kingdom) realizado no Departamento de Física da UFSC, entre 08 e 12 de Dezembro de 2014.

 

Em 17/12/14

Reitora: Dr. Sérgio Carlos de Carvalho

Pró-Reitor de Pesquisa e Pós-graduação: Dra. Silvia Márcia Ferreira Meletti

Diretor de Pesquisa: Dr. Arthur Eumann Mesas

Rod. Celso Garcia Cid, Km 380,

campus, Londrina - PR
Fone: 43-3372-5451

 

CONTATOS E 

 

ORÇAMENTOS:

 

 

Coord LARX:43-3371.4884

scarmini@uel.br

Lab DRX: 43-3371.4164

scarmini@uel.br

Lab uTM: 43-3371.4892

acandrello@uel.br

Lab PSI: 43-3371.4889

aurbano@uel.br

Lab FRX:   43-3371.4736

parreira@uel.br

Criação e manutenção do conteúdo:

Prof. J. Scarminio

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